Première mondiale : un test de silicium sans contact
Vendredi, 23/12/2011 - 23:10
STMicroelectronics revendique une première mondiale : le test d’une tranche de silicium sans utiliser de sondes à contact. L’innovation est appliquée au contrôle des tranches de circuits intégrés d’identification par radiofréquences (RFID) en utilisant des ondes électromagnétiques comme lien ...
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