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  • Décembre 2011
  • Première mondiale : un test de silicium sans contact

    Première mondiale : un test de silicium sans contact

    Samedi, 24/12/2011 - 00:10
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    STMicroelectronics revendique une première mondiale : le test d’une tranche de silicium sans utiliser de sondes à contact. L’innovation est appliquée au contrôle des tranches de circuits intégrés d’identification par radiofréquences (RFID) en utilisant des ondes électromagnétiques comme lien ...

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  • La première puce en molybdénite

    La première puce en molybdénite

    Jeudi, 15/12/2011 - 00:40
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    La molybdénite, un nouveau matériau, pourra-t-il prendre le relais du silicium dans la construction de puces électronique pour poursuivre la miniaturisation et donc perpétuer la loi de Moore ? Une chose est sûre : ce minéral s’avère prometteur pour dépasser les limites physiques qui se font ...

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